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TD-LTE技术试验系统上行参考信号测试条件(二)

文章来源:正航仪器 浏览次数: 发布时间:2014-06-16

 
 
 
测试项目:上行参考信号
测试分项:上行PUCCH解调用参考信号
测试目的:验证E-UTRAN支持配置、接收上行PUCCH解调用参考信号
测试条件:
Ø eNodeB和配合测试终端硬件、软件工作正常;
Ø UE已签约。
测试步骤:
Ø 选择配置eNodeB工作为:系统带宽为20MHz,帧结构为上行/下行配置1、常规长度CP、特殊子帧配置7(DwPTS:GP:UpPTS=10:2:2);
Ø 用矢量信号分析仪对终端的发射信号进行时、频域分析;
Ø 测试终端在该小区开机进行随机接入;
Ø 测试终端进行RRC连接建立、无线承载建立等过程;
Ø 对不同的PUCCH格式:格式1、1a、1b、2、2b,重复步骤1~步骤4的测试。
 
TD-LTE技术试验系统条件


预期结果:
Ø 上行PUCCH解调用参考信号时频域位置符合标准要求;
Ø 测试终端能在该小区正常接入;
Ø 测试终端能在该小区正常建立数据无线承载。
Ø eNodeB支持上行参考信号序列循环位移,即eNodeB能够根据需要配置UE使用适当的ZC序列循环位移版本发送其上行RS:RRC中配置PUCCH-ConfigCommon->deltaPUCCH-Shift参数(取值ds1/ds2/ds3,也即对应值1、2、3。该参数即36.211中)RRC中配置PUCCH-ConfigCommon->nCS-AN(即36.211中5.4节的,取值0~7)http://www.dgzhenghang.net 
 
 
 
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