紫外线试验箱/紫外老化箱多能级陷阱模型

                     紫外线试验箱/紫外老化箱多能级陷阱模型
 
紫外线试验箱/紫外老化箱对两水平陷阱深度水平的模型对电荷特性进行研究，这种处理方式过于简单，有时候不能准确地反映不同能级陷阱内电荷的分布状况。本节在国内外学者研究基础上，将两陷阱分布模型扩展为多能级分布陷阱分布模型。
 
 
固体绝缘材料内部存在一系列不同能量深度的陷阱，某些陷阱被电荷填充，而有部分处于空置状态。对于不带电的绝缘材料，由于本身的热运动的，浅陷阱内的电荷会被激发跃迁到导带中。处于导带上的电荷难以稳定，它会向浅陷阱跃迁，同时释放能量。陷阱中捕获电荷的变化率。
 
 
紫外线试验箱/紫外老化箱其中Nc是导带中的有效陷阱密度，vth是电荷热运动速率，Ethi是陷阱深度，k为玻尔兹曼常数，T为温度。热脱陷常数与电荷脱陷时间常数成反比关系，即热脱陷常数越大，时间常数越小，电荷消散就也快。由此，在获得PEA的空间电荷测量数据，根据式求得ni和kthi，进而求得与脱陷率常数相对应的陷阱深度水平进而评估出材料内部的陷阱能级深度和陷阱电荷密度参数。http://www.dgzhenghang.net