紫外试验老化箱/紫外老化箱对材料分布的影响

 
                  紫外试验老化箱/紫外老化箱对材料分布的影响
 
紫外试验老化箱/紫外老化箱空间电荷总量及其消散快慢与绝缘材料本身微观结构有关，对绝缘材料性能存在影响。根据对空间电荷密度进行积分，求得样品内电荷总量如3.9所示。从3.9中可以看出，去压后试品内总电荷先是迅速衰减，之后呈现缓慢递减趋势，但三个不同电老化时间样品递减速度是不同的，老化时间越长的样品电荷消散越慢。
 
根据中所建立的多能级陷阱理论，可将通过固定热脱陷常数ki 来对总电荷消散曲线进行拟合，拟合优度在99%以上，拟合结果如3.10所示。尽管三种样品的电荷在去压之初都呈现极快的递减趋势，但在之后很长一段时间内老化时间越长的样品电荷衰减越慢，最终都趋于零，即内部空间电荷完全消除，但需要较长时间。
 
3.7所展现出来的电荷衰减速度差异与样品内部的陷阱分布关系密切。通过拟合获得热脱陷常数ki相对应陷阱能级下的陷阱电荷密度分布。通过上式，可获得单位体积内材料的陷阱电荷密度，如表3.3和3.11所示。
 
紫外试验老化箱/紫外老化箱很显然，电老化对材料内部陷阱的分布影响很大。老化使陷阱深度靠近但小于0.8eV的陷阱电荷密度减少，同时大大增加了0.85eV附近的陷阱电荷密度。陷阱深度为0.95eV以后的电荷密度分布峰值随着老化时间的增长逐步后移，深陷阱中的陷阱电荷密度逐渐增加。